絕緣電阻測驗儀在丈量時可能會發(fā)生各種各樣的問題需求我們及時應對處理，歸結起來主要有九大問題，以下是這九大問題的詳細解析，供我們參考：

1、能不能用兆歐表直接測帶電的被測驗品，成果有什么影響，為什么？

解析：為了人身安全和正常測驗，原則上是不答應丈量帶電的被測驗品，若要丈量帶電被測驗品，不會對外表形成損壞（短時刻內），但測驗成果是不精確的，因為帶電后，被測驗品便與其它試品連接在一同，所以得出的成果不能實在的反映實踐數(shù)據，而是與其它試品一同的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。

2、在高壓高阻的測驗環(huán)境中，為什么要求外表接“G”端連線？

解析：在被測驗品兩頭加上較高的額外電壓，且絕緣阻值較高時，被測驗品外表受濕潤，污染引起的走漏較大，示值差錯就大，而外表“G”端是將被測驗品外表走漏的電流旁路，使走漏電流不通過外表的測驗回路，消除走漏電流引起的差錯。

3、為什么電子式兆歐表幾節(jié)電池供電能發(fā)生較高的直流高壓?

解析：這是依據直流改換原理，通過升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓，發(fā)生的高壓雖然較高但輸出功率較小，如電警棍幾節(jié)電池能發(fā)生幾萬伏的高壓。

4、在校測某些類型絕緣外表“L”、 “E”兩頭額外輸出直流高壓時，用指針式萬用表DCV檔測L、E兩頭電壓，為什么電壓會下跌許多，而數(shù)字式萬用表則不會？

解析：用一般的指針式萬用表直接在兆歐表“L”、 “E”兩頭丈量其輸出的額外直流電壓，丈量成果與標稱的額外電壓值要小許多（超出差錯范圍），而用數(shù)字萬用表則不會。這是因為指針式萬用表內阻較小，而數(shù)字萬用表內阻相對較大。指針式萬用表內阻較小，兆歐表L-E端輸出電壓下降許多，不是正常工作時的輸出電壓。但是，用萬用表直接去測兆歐表的輸出電壓是過錯的，應當用內阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負載電阻足夠大的方式去丈量。

5、為什么測絕緣時，不但要求測單純的阻值，并且還要求測吸收比，極化指數(shù)，有什么意義？

解析：在絕緣測驗中，某一個時刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣功能的好壞的，這是因為以下兩方面原因，一方面，同樣功能的絕緣材料，體積大時呈現(xiàn)的絕緣電阻小，體積小時呈現(xiàn)的絕緣電阻大。另一方面，絕緣材料在加上高壓后均存在對電荷的吸收比進程和極化進程。 所以，電力體系要求在主變壓器、電纜、電機等許多場合的絕緣測驗中應丈量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數(shù)-即R10min和R1min 比值，并以此數(shù)據來判定絕緣情況的好壞。

6、用兆歐表丈量絕緣電阻時，有哪些因素會形成丈量數(shù)據不精確，為什么？

解析：（1）電池電壓缺乏。電池電壓欠壓過低，形成電路不能正常工作，所以測出的讀數(shù)是不精確的。

（2）測驗線接法不正確。誤將“L”、 “G”、 “E”三端接線接錯，或將“G”、 “L”連線“G”、 “E”連線接在被測驗品兩頭。

（3）“G”端連線未接。被測驗品因為受污染濕潤等因素形成電流走漏引起的差錯，形成測驗不精確，此刻必須接好“G”端連線防止走漏電流引起差錯。

（4）攪擾過大。假如被測驗品受環(huán)境電磁攪擾過大，形成外表讀數(shù)跳動。或指針晃動。形成讀數(shù)不精確。

（5）人為讀數(shù)過錯。在用指針式兆歐表丈量時，因為人為視角差錯或標度尺差錯形成示值不精確。

（6）外表差錯。外表自身差錯過大，需求從頭校對。

7、在測容性負載阻值時，兆歐表輸出短路電流巨細與丈量數(shù)據有什么關系，為什么？

解析：兆歐表輸出短路電流的巨細可反映出該兆歐表內部輸出高壓源內阻的巨細。當被測驗品存在電容量時，在測驗進程的開端階段，絕緣電阻測驗儀內的高壓源要通過其內阻向該電容充電，并逐漸將電壓充到兆歐表的輸出額外高壓值。明顯，假如試品的電容量值很大，或高壓源內阻很大，這一充電進程的耗時就會加長。其長度可由R內和C負載的乘積決定（單位為秒）。請注意，給電容充電的電流與被測驗品絕緣電阻上流過的電流，在測驗中是一同流入兆歐表內的。兆歐表測得的電流不僅有絕緣電阻上的重量，也加入了電容充電電流重量，這時測得的阻值將偏小。

如：額外電壓為5000V的兆歐表，若其短路輸出電流為80μA(日本共立產)，其內阻為5000V/80μA＝62MΩ

如：試品容量為0.15μF，則時刻常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在18秒時刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。

由此可見，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ，則顯現(xiàn)的測得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的實在情況了，并且試值主要是隨容性負載容量的改動而改動，即容量小，測驗阻值大；容量大，測驗阻值小。

所以，為保障精確測得R15s，R60s的試值，應選用充電速度快的大容量兆歐表。我國的相關規(guī)程要求兆歐表輸出短路電流應大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場合應盡量選擇輸出短路電流較大的兆歐表。

8、為什么不同兆歐表測出示值存在差異？

解析：因為高壓兆歐表測驗電源非抱負電壓源，內阻Ri不同丈量回路串接電阻Rm不同，動態(tài)丈量精確度不同，以及現(xiàn)場丈量操作的不合理或失誤等，不同類型兆歐表對同一被測驗品的丈量成果會存在差異。實踐丈量時，應結合兆歐表絕緣實驗條件的特殊性盡量下降可能呈現(xiàn)的各種丈量差錯：

（1）不同類型的絕緣表丈量同一試品時， 應采用相同的電壓等級和接線辦法。例如在丈量電力變壓器高壓繞組絕緣中，當繞組引出端始終接兆歐表L端鈕時，就有： E端鈕接低壓繞組和外殼，而G端鈕懸空的直接法； E端鈕接低壓繞組，而G端鈕接外殼的外殼屏蔽法（低電位屏蔽）；G端鈕接在高壓繞組套管的外表，而E端鈕先接低壓繞組，然后分別再和外殼相連或不相連的兩種套管屏蔽法（高電位屏蔽）。 E端鈕接外殼，而G端鈕接低壓繞組等接線辦法。 不同結構、制式的兆歐表，G端鈕電位不同，G端鈕在套管外表的安放位置也應隨之改動位。

（2）不同類型兆歐表的量程和示值的刻度辦法不同，刻度分辨力不同，丈量精確度等級不同，都會引起示值間的差異。為了確保對電力設備的精確丈量，應防止選用精確度低，運用不方便的搖表。

（3）試品大多含容性重量，并存在介質極化現(xiàn)象，即使測驗條件相同也難以獲得抱負的數(shù)據重復性。

（4）丈量時，絕緣介質的溫度和油溫應與環(huán)境溫度一致，一般答應相差±5%。

（5）應在特定時刻段的答應時刻差范圍內，盡快地讀取丈量值。為使丈量差錯不高于±5%，讀取R60S的時刻答應差錯±3S，而讀取R15S的時刻不該相差±1S。

（6）高壓測驗電源非抱負電壓源，重負荷（被測驗品絕緣電阻值?。r，輸出電壓低于其額外值，這將導致單支路直讀丈量法兆歐表丈量精確度因轉化系數(shù)的改動而下降。這種改動因兆歐表測驗電源負荷特性不同而異。

（7）不同動態(tài)測驗容量目標的兆歐表，實驗電壓在試品上（及采樣電阻上）的建立進程與對試品的充電才能均存在差異，丈量成果也會不同，運用低于動態(tài)測驗容量目標門限值的兆歐表丈量時，因為外表存在慣性網絡（包含指針式外表的機械慣性）導致示值響應速度較慢，來不及正確反映試品實在絕緣電阻值隨時刻的改動規(guī)則，尤其是在測驗的開始階段，電容充電電流未徹底衰減為零，更會使R15S和吸收比讀測值發(fā)生較大差錯（偏?。?/span>

（8）試品絕緣介質極化情況與外加實驗電壓巨細有關。因為實驗電壓不能敏捷到達額外值，或因兆歐表測驗電源負荷特性不同導致施加于試品上實驗電壓的差異，使試品初始極化情況不同，導致吸收電流不同，使緣電阻丈量的示值不同。

（9）國外某些兆歐表的實驗高電壓連續(xù)可調，開機后先由零調節(jié)至額外值。兆歐表讀數(shù)開始時刻的不確定性，以及高壓到達額外值時刻的不確定性，使試品初始極化不同，也將引起示值間的不同。

（10）不同兆歐表現(xiàn)場攪擾的敏感度和抵擋才能不同，對同一試品的讀測值會存在差異。

（11）數(shù)據隨機崎嶇的常規(guī)丈量差錯和兆歐表辦法差錯不同等引起示值間的差異。

（12）介質放電不充沛是重復丈量成果存在差異的重要原因之一。據試品充電吸收電流與其反向放電電流對應和可逆的特色，若需對同一試品進行第2次重復丈量，次丈量完畢后的試品短路放電間歇時刻一般應長于丈量時刻，以放盡所積累的吸收電荷量，使試品絕緣介質充沛恢復到原先無極化狀況，否則將影響第2次丈量數(shù)據的精確度。為使被試品上無剩下電荷，每一次實驗前也應該將丈量端對地短路放電，有時乃至需時近1小時，并應撤除與無關設備間的聯(lián)線。總歸，同一試品不同時期的絕緣丈量，應采用相同的實驗電壓等級和接線辦法，并盡可能運用同一類型或功能相近的絕緣電阻表，以確保丈量數(shù)據的可比性。

（13）最終還應特別強調選用動態(tài)丈量精確度較低和高壓測驗電源容量較低的外表，因為電容充電電流尚未徹底衰減為零，以及外表明值不能精確地實時跟從試品視在絕緣電阻值的改動，讀測R15S阻值偏低，呈現(xiàn)較大差錯，導致試品吸收比測驗值虛假偏高，應引起測驗人員特別注重。這也可能是各種類型高壓兆歐表丈量同一試品時吸收比讀測值存在差異的主要原因。由此也闡明吸收比判比目標不及極化指數(shù)科學和客觀。

9、高阻絕緣表現(xiàn)場測容性負載時（如主變），指針顯現(xiàn)阻值在某一區(qū)間突然下跌（不是正常測驗時的最大值區(qū)間內的緩慢小幅擺動），快速來回擺動，是什么原因？

解析：形成該現(xiàn)象主要是實驗體系內某部位呈現(xiàn)放電打火。絕緣表向容性被測驗品充電中，當容性試品被充至一定電壓時，假如外表內部測驗線或被測驗品中任一部位有擊穿放電打火，就會呈現(xiàn)上述現(xiàn)象。 判別辦法：

（1）外表測驗座不接入測驗線，開啟電源和高壓，看外表內是否有打火現(xiàn)象發(fā)生（若有打火可聽到放電打火聲）。

（2）接上L、G、E測驗線，不接被測驗品，L測驗線末端線夾懸空，開啟高壓，看測驗導線是否有打火現(xiàn)象發(fā)生。若有打火現(xiàn)象，則查看：a）L、G測驗線芯線（L端）與裸露在外的線（G端）是否過近，發(fā)生拉弧打火。b）L端芯線插頭與測驗座屏蔽環(huán)或測驗夾子與被測驗品接觸不良形成打火。c）測驗線與插頭、夾子之間虛焊斷路，形成間隙放電。

（3）接入被測驗品，查看末端線夾與試品接觸點鄰近有無放電打火。 掃除以上原因，接好被測驗品，開啟高壓，若外表仍有上述現(xiàn)象則闡明被測驗品絕緣擊穿形成局部放電或拉弧。